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Ziel des Vorhabens "Design, Qualifizierung und Selbsttest für Leistungselektronik mit extrem hoher Lebensdauer" (DQS-LL) ist die Entwicklung und Verifizierung eines Verfahrens zur testbasierten Qualifizierung leistungselektronischer Baugruppen für extrem hohe Zyklenzahlen. Das Verfahren soll es KMU ermöglichen, durch zeitlich und kostenmäßig begrenzte Tests die Zuverlässigkeit für bis zu 25 Jahre bzw. mindestens 10 Mio. Lastwechselzyklen abzusichern. Die hierfür zu lösenden wissenschaftlichen Fragen betreffen: * Prüfmethoden zur Beschleunigung von Tests * Frühindikatoren für Degradation und Ausfall * Konzepte für eingebauten Selbsttest (BIST, built-in self-test) Für KMU effizient verwertbare Ergebnisse ergeben sich, weil die Qualifizierungskosten einen hohen Anteil an den Entwicklungskosten mechatronischer Systeme ausmachen. So sind die experimentellen Zuverlässigkeitsnachweise extrem zeit- und kostenaufwändig. Bei Kleinserien, wie sie bei Spezialprodukten von KMU typisch sind, ist die Kostenfrage besonders bedeutsam, weil die auf die Stückzahl bezogenen anteiligen Prüfkosten die Gesamtstückkosten entscheidend beeinflussen. Da mit dem Vorhaben der Prüfaufwand vermindert werden soll, können die Ergebnisse des Vorhabens gerade KMU helfen, die Entstehungskosten bezogen auf das einzelne leistungselektronische System signifikant zu vermindern. Die Verminderung der Prüfzeiten, welche bei Zuverlässigkeitsprüfungen bereits heute mehrere tausend Stunden betragen, ermöglicht es den KMU, auch die Innovationszyklen kostenneutral zu verkürzen, ohne den materiellen Entwicklungsaufwand zu erhöhen. Zum Transfer der Ergebnisse dient auch ein Leitfaden für Test, Qualifizierung, Dimensionierung und Überwachung langzeitzuverlässiger leistungselektronischer Baugruppen.